บริการของเรา
อัตราค่าวิเคราะห์ด้านเครื่องมือ



 

         Scanning-Transmission Scanning Electron Microscope เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านที่มีความแยกชัดแบบ lattice image ในระดับ 0.14 nm ศักย์เร่งอิเล็กตรอนสูงที่สุดเท่ากับ 200 kV สามารถหมุนเอียงชิ้นงานเพื่อศึกษาแบบรูปการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนได้ในช่วง 1.5 -35 nm และปรับเปลี่ยนมุมสอบ (convergent angle) ได้ในช่วง1.5-20 nm สามารถทำงานทั้งในรูปแบบ transmission mode และ scanning-transmission mode ติดตั้งพร้อมกับ energy-dispersive X-ray microanalyser สำหรับวิเคราะห์ส่วนประกอบเคมีในระดับจุลภาค และมี wide angle TV camera เพื่อช่วยในการโฟกัสภาพ ณ กำลังขยายสูง