Field Emission Scanning Electron Microscope JEOL JSM-6335F

                                                 เป็น กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่มีแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบ cold cathode field emission มีความแยกชัดสูงถึง 1.5 nm. ที่ 15 kV เหมาะสำหรับงานทางวิทยาศาสตร์กายภาพ ศักย์เร่งอิเล็กตรอนปรับเปลี่ยนได้ในช่วง 0.5-30 kV ง่ายต่อการใช้งานเพราะควบคุมการทำงานด้วยคอมพิวเตอร์ สามารถวิเคราะห์และเลือกรูปแบบ การนำเสนอผลงานได้หลากหลายตามความต้องการของผู้ใช้บริการ ติดตั้งพร้อม secondary electron detector, backscattered electron detector และ energy-dispersive X-ray Microanalyser