Scanning-Transmission Electron Microscope JEOL JEM-2010

                                        เป็น กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านที่มีความแยกชัดของ lattice image ในระดับ 0.14 nm ศักย์เร่งอิเล็กตรอนสูงที่สุดท่ากับ 200 kV สามารถหมุนเอียงชิ้นงานเพื่อศึกษาแบบรูปการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนได้ในช่วง กว้างถึง 80 องศา ขนาดของลำอิเล็กตรอนปรับเปลี่ยนได้ในช่วง 1.5-35 nm และปรับเปลี่ยนมุมสอบได้ในช่วง 1.5-20 mrad สามารถทำงานทั้งในรูปแบบ transmission mode และ scanning-transmission mode ติดตั้งพร้อมกับ energy-dispersive X-ray microanalyser สำหรับ วิเคราะห์ส่วนประกอบเคมีในระดับจุลภาค และมี wide angle TV camera เพื่อช่วยในการโฟกัสภาพที่กำลังขยายสูง